KPTechnology扫描开尔文探针非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KPTechnology公司目前可提供具有1-3meV业界高分辨率的测试系统。
主要特点：
●功函分辨率<3meV
●扫描面积：5mmto300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同）
●扫描分辨率：317.5nm
●自动高度调节
应用领域：
●有机和非有机半导体
●金属
●薄膜
●太阳能电池和有机光伏材料
●腐蚀
升级附件：
●大气光子发射系统
●表面光电压(QTHorLED)
●SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
●金或不锈钢探针，直径0.05mmto20mm
●相对湿度控制和氮气环境箱
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